TY - JOUR AU - Jean-François Boulanger AU - Franck Corset AU - Franck Iutzeler AU - Jérôme Lelong TI - Classifying and explaining defects with small data for the semiconductor industry JO - MathematicS In Action PY - 2022 DA - 2022/// SP - 109 EP - 114 VL - 11 IS - 1 PB - Société de Mathématiques Appliquées et Industrielles UR - https://msia.centre-mersenne.org/articles/10.5802/msia.20/ UR - https://doi.org/10.5802/msia.20 DO - 10.5802/msia.20 LA - en ID - MSIA_2022__11_1_109_0 ER -